DIP for 7200 GC/Q-TOF
The Direct Inlet Probe (DIP) opens new fields of application for the for the Agilent 7200 GC/Q-TOF System:
Accurate mass information and high mass resolution of the Q-TOF mass analysator also enable the analysis of sensitive samples that are not accessible by GC not even with prior sample preparation.
Besides the ion sources EI and CI, also FI (Field Ionisation), FD (Field Desorption), and LIFDI (Liquid Injection Field Desorption Ionisation) can be combined with the DIP for the 7200 GC/Q-TOF-MS. These soft ionisation techniques, exclusively offered by SIM for this MS, provide molecular ion peaks even of very sensitive analytes (i.e. organometallic complexes).
Características DIP-Q-TOF:
- Inyección de muestra de entrada directa para análisis de volátiles en muestras sólidas.
- Inserción automática de la muestra en el vacío de la fuente de iones (EI/CI), impide que el MS se ventile accidentalmente.
- La Temperatura de vaporización está programada en la fuente de iones para eliminar interferencias de la matriz.
- Todos los beneficios del análisis Q-TOF, (información exacta de masas y resolución), alta sensibilidad y selectividad MS/MS.
- Evaluaciones rápidas para la seguridad de calidad, identificación de analitos desconocidos, análisis de sustancias en matrices complejas.
- El rango de aplicación abarca análisis de alimentos y medio ambiente, análisis metabólicos, análisis de sustancias naturales, etc.
- Medición del DIP sin retirar la interfaz/Q-TOF GC, que permite el cambio rápido entre GC/MS y el modo DIP/MS.
- Fácil manejo del sistema a través de software DIP (programa de temperatura para calentar la varilla de empuje) y el Software Misa Hunter de Agilent (software espectral).
- Soluciones completas que consisten en el Sistema DIP junto con el equipo Agilent 7200 GC/Q-TOF y el software adecuado.
